当前位置:首页  >  技术文章  >  CPS高精度纳米粒度仪的技术优势

CPS高精度纳米粒度仪的技术优势

发布时间:2022-02-28 14:23:00      点击次数:329

  CPS纳米粒度分析仪分辨率很高,它有效地结合了高速离心沉降(ZG24000转/分)和激光法的优点,使得整个仪器能够达到极高的分辨率,优良的灵敏度和重复性.
 

  同激光散射和颗粒计数法比较,该方法有非常高的分辨率,能够轻松鉴别杂质颗粒,污染颗粒或者外来颗粒。半峰宽为峰值粒度 1%,也就是说对于峰值差异只有1%的相邻粒度两个粒度峰,该仪器都可以有效地检测并区分开来。仪器的分辨率如此高,得到的颗粒分布几乎不受仪器的影响,测量终得到的是真实、可靠的颗粒分布。
 

  极高的灵敏度, 低于10-8 g 活性样品可以得到,少可以分析小于毫克乃至微克级的样品。
 

  高度可重复性的样品结果; 连续重复分析峰的重复性小于±1% 或更好。
 

  连续的离心操作;在分析连续样品的时候,不需要仪器停止来清洗,需要极少的人工。
 

  和传统沉降法比较,更快的分析时间。速度的优势是基于更快的圆盘转速以及更快的仪器检测器响应。采用多阶速度,分析速度可以小于通常情况下的1/20。

公司简介  >  在线留言  >  联系我们  >  

CONTACT

办公地址:北京市海淀区上地信息路1号金远见大楼B栋730

TEL:010-84763620

EMAIL:info@rubolab.cn
扫码微信联系
版权所有©2022 儒亚科技(北京)有限公司 All Rights Reserved    备案号:京ICP备19055109号-2     sitemap.xml